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(서울=NSP통신) 김용환 기자 = 삼성전자는 23일 갤럭시노트7 소손 원인은 배터리 자체 결함으로 최종 분석해 발표했다.

고동진 삼성전자 무선사업부 사장은“지난 수개월 간 철저한 원인 규명을 위해 하드웨어, 소프트웨어 등 제품 뿐만 아니라 각각의 검증 단계와 제조·물류·보관 등 전 공정에서 원점에서부터 총체적이고 깊이 있는 조사를 실시했다”고 밝혔다.

고 사장은 “정확한 원인 규명을 위해 시장에서 발생한 소손 현상을 실험실에서 재현하는 것이 중요하다고 판단했다”며 “대규모의 재현 테스트 설비를 구축해 사용자 조건과 유사한 환경 하에서 충방전 테스트를 통해 소손 현상을 재현해 이를 통해 정확한 분석을 진행할 수 있었다”고 말했다.

삼성전자는 제품 20만대, 배터리 3만개로 진행한 대규모 충방전 시험에서 소손 현상을 재현했으며 노트7에 채용된 A배터리와 B배터리에서 각기 다른 원인으로 소손 현상이 일어나는 것을 확인했다.

이번 갤럭시노트7 소손 원인 분석에 참가한 해외 전문기관들 분석 결과도 배터리 자체결함으로 모아졌다.

전세계 안전 인증분야의 선도기업인 글로벌 과학회사 UL은 갤럭시 노트7 소손 원인 규명을 위한 상세한 기술적 분석을 진행했다.

UL은 제품 레벨에서 노트7 소손과 연관된 문제를 발견할 수 없었으며 A배터리는 배터리 위쪽 코너에 눌림 현상과 얇은 분리막으로 배터리 내부 단락을 발생시켜 소손 유발 요인으로 분석했고 B배터리에 대해서는 비정상 융착돌기, 절연테이프 미부착, 얇은 분리막의 조합이 배터리 내부에서 단락을 발생시키는 것으로 분석했다.

미국 과학기술 분야 분석 전문 기관 익스포넌트(Exponent)도 제품 전반에 걸친 상세한 분석을 진행해 하드웨어와 소프트웨어 분석에서는 소손과 관련 있는 요인이 발견되지 않았다고 밝혔다.

A배터리는 음극탭 부위 젤리롤 코너의 눌림 현상을 소손의 주요 원인으로 분석했다.

B배터리는 비정상적으로 높은 융착 돌기와 그로 인한 절연 테이프와 분리막 파손을 내부 단락을 발생시키는 주요 요인으로 결론냈다.

독일에 본사를 두고 있는 글로벌 검인증 기관 튀브(TÜV) 라인란드는 배터리 물류 시스템과 폰 조립 공정 운영 상의 배터리 안전성에 대해 집중적으로 조사했다.

TÜV 라인란드는 심사한 폰 제조 공정과 배터리 물류 시스템에서 배터리의 안전성을 저해할 수 있는 요인은 발견되지 않았다고 밝혔다.

고동진 사장은 “혁신적인 노트7을 만들기 위해서 배터리 사양에 대한 목표를 제시했고 배터리 설계와 제조 공정 상의 문제점을 제품 출시 전에 최종적으로 확인하고 제대로 검증하지 못한 것에 대해 책임을 통감한다”며 “경영 전반에 걸쳐 품질 최우선의 경영 체제를 강화해 제품 안전성에 있어서도 새로운 혁신을 지속해 나가겠다”고 밝혔다.

한편 이번 소손 원인 조사의 객관성을 높이기 위해 UL, 익스포넌트, 튀브 라인란드 등 해외전문기관서도 독립적인 조사를 진행했다.

UL의 컨슈머비즈니스 부문 사지브 지수다스 (Sajeev Jesudas) 사장, 익스포넌트의 수석 연구원케빈 화이트 (Kevin White) 박사, 튀브 라인란드(TÜV Rheinland)홀거 쿤츠 (Holger Kunz) 부사장이 참석해 각각 조사 결과를 발표했다.


갤럭시 노트7 주요 경과

2016년 8월 2일 갤럭시 노트7 공개 (미국 뉴욕)
2016년 8월 19일 갤럭시 노트7 공식 출시
2016년 9월 2일 갤럭시 노트7 교환 프로그램 공식 발표
2016년 9월 15일 미국 CPSC, 갤럭시 노트7 리콜 발표
2016년 10월 1일 갤럭시 노트7 판매 재개
2016년 10월 11일 갤럭시 노트7 생산 중단, 판매·교환 중단
2017년 1월 23일 갤럭시 노트7 소손 원인 조사 결과 발표

NSP통신/NSP TV 김용환 기자, newsdealer@nspna.com
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